掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫/ 小孔的位置，復原整個光斑的分布。
掃描式光束分析儀的優點：
• 取樣尺度可以到微米量級，遠小于CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；
• 采用單點探測器，適應紫外~ 中遠紅外寬范圍波段；
• 單點探測器具備很高的動態范圍，一個探頭可同時適應弱光和強光分析。
掃描式光束分析儀的缺點：
• 多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩定的激光；
• 不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。
掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關系而非替代關系；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優勢。
NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀， 源自2010 年加入OPHIR 集團的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發生產掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測試等領域享有盛名。掃描式與相機式光斑分析儀的互補聯合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案。
特點和功能：• 可測量連續激光以及大于1KHz 重頻的脈沖激光
• 取樣間隔可以調節小到5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，
• 可顯示2D/3D 光斑形貌
• 掃描速度可調諧
• 16 位數字化信號采集，35dB 高動態范圍，20Hz *刷新頻率
• 支持用戶進行二次開發，便于集成
• 探頭可添加功率計選項
• 硅、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別
• 不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑
• 所有的NanoScan 的校準都可以朔源NIST 標準以確保*終的精度
• 符合國際標準ISO/DIN 11146 及ISO13694。（1989~1996 年，Photon 公司主持了ISO/DIN 委員會的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標準）
型號指標：
軟件功能：NanoScan 提供Standard 與Professional 兩種功能版本：
狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2 狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2
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